【晶圆测温系统】半导体电阻率随温度波动什么样的?半导体的电阻率怎么测量

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阐述了半导体材料的电阻率随温度动态变化及检测方法。晶圆测温系统

1.半导体电阻率随温度波动什么样的

常温下,半导体的电阻率一般比金属和导体大得多。和金属不一样的是,半导体电阻率一般会随着温度上升而降低,这被称作反常电阻率效应。

半导体电阻率随温度波动的具体规律性在于半导体自身的特点,常见的就是:晶圆测温系统

金属试品:电阻率随温度线性加强

硅:电阻率随温度呈现负温度系数,即随温度上升而减少

锗:电阻率也呈现出负温度系数

2.半导体的电阻率怎么测量

TC Wafer.jpg

半导体的电阻率测量通常使用四探针法。四探针法是一种精准测量材质电阻率的办法,它能消除接触电阻和引线电阻的影响,特别适合半导体这种高阻材质。

其基本概念要在待测试品上施加一个小电流,根据四根探针测量试品表层的电势差来计算出电阻率。为了保证测量精度,必须通过空气大气压力、温度等因素的校正来减少误差。晶圆测温系统

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